必威-官方網(wǎng)站首頁必威-官方網(wǎng)站首頁12月18日，由北京理化分析測試技術(shù)學(xué)會(huì)電子顯微學(xué)專業(yè)委員會(huì)主辦的2024年度北京市電子顯微學(xué)年會(huì)在中復(fù)大廈成功召開。吸引了來自學(xué)術(shù)界、電鏡制造業(yè)、儀器應(yīng)用領(lǐng)域及相關(guān)檢測領(lǐng)域的近400名專家學(xué)者、廠商代表及用戶積極參與，會(huì)場座無虛席，洋溢著濃厚的學(xué)術(shù)探討與交流氛圍。

　　北京理化分析測試技術(shù)學(xué)會(huì)電子顯微學(xué)專業(yè)委員會(huì)理事長何其華進(jìn)行開幕致辭。何理事長首先對(duì)各位老師的無私奉獻(xiàn)、會(huì)務(wù)團(tuán)隊(duì)的辛勤籌備表示了感謝，正是他們的不懈努力，確保了本次年會(huì)的如期舉行與順利進(jìn)行。同時(shí)，她也感謝了參與學(xué)術(shù)報(bào)告的專家們，他們的精彩分享為會(huì)議增添了寶貴的學(xué)術(shù)價(jià)值，展現(xiàn)了電子顯微學(xué)領(lǐng)域的最新進(jìn)展。此外，她還特別感謝了長期以來給予電鏡協(xié)會(huì)支持的廠商伙伴們，以及所有蒞臨會(huì)議的師生們。她希望今天的學(xué)術(shù)交流能夠激發(fā)更多靈感，讓每位參與者都能滿載而歸。最后，她預(yù)祝本次年會(huì)取得圓滿成功，為電子顯微學(xué)的發(fā)展貢獻(xiàn)新的力量。

　　清華大學(xué)谷林教授作題為“還原論下的電化學(xué)儲(chǔ)能材料”的報(bào)告。谷教授從還原論的角度下，以儲(chǔ)能材料、鋰電池等為例為參會(huì)者介紹了如何將材料來定量化?；谶€原論的思想，將材料科學(xué)的研究視角從基本單元深入到原子能級(jí)，視原子為材料科學(xué)的核心抓手，然后通過對(duì)稱性對(duì)原子能級(jí)的進(jìn)行修飾來描述整個(gè)材料科學(xué)。在這一思路中，還原論的思想與分子軌道理論有著異曲同工之妙，都體現(xiàn)了“破”的智慧——將復(fù)雜材料拆解為基本單元進(jìn)行研究。然而，在材料科學(xué)中，還存在著準(zhǔn)離子等復(fù)雜問題，這些問題超出了還原論的解決范圍。為了應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)，需要借助衍生論的思想，材料科學(xué)將在這“破”與“立”的過程中不斷前行，逐步走向定量化研究的新階段。

　　中國科學(xué)院物理研究所張忠山副主任工程師作題為“聚焦離子束在微納加工中的應(yīng)用”的報(bào)告。報(bào)告全面介紹了聚焦離子束在微納加工領(lǐng)域的多重應(yīng)用。首先，探討了聚焦離子束的典型應(yīng)用，如材料加工與結(jié)構(gòu)表征。其次，展示了聚焦離子束的“剪紙”應(yīng)用，利用離子束掃描與沉積技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了薄膜結(jié)構(gòu)的復(fù)雜變形與圖案化，為光學(xué)器件等領(lǐng)域提供了新的設(shè)計(jì)思路。接著，介紹了“BOSCH”工藝——一種通過結(jié)合不同氣體實(shí)現(xiàn)邊沉積邊刻蝕的先進(jìn)工藝，顯著提升了加工結(jié)構(gòu)的深寬比，為特殊材料的微納加工提供了可能。最后，還介紹了聚焦離子束在三維沉積方面的特殊應(yīng)用，如制備彈簧形狀的微納結(jié)構(gòu)，展示了離子束在誘導(dǎo)碳沉積方面的能力。

　　北京大學(xué)生命科學(xué)學(xué)院公共儀器中心胡迎春高進(jìn)工程師作題為“免疫電鏡與生命科學(xué)研究”的報(bào)告。胡老師首先為與會(huì)者介紹了北京大學(xué)生命科學(xué)學(xué)院的公共儀器中心，該中心自2009年成立以來，已發(fā)展成為集電鏡平臺(tái)、光學(xué)成像平臺(tái)等在內(nèi)的七大高端測試平臺(tái)于一體的綜合性科研支撐體系。接著，胡老師又介紹了免疫電鏡技術(shù)，這項(xiàng)技術(shù)通過運(yùn)用特定抗體，能夠在細(xì)胞原位及超微結(jié)構(gòu)層面精準(zhǔn)定位特定抗原，為科學(xué)研究提供了強(qiáng)有力的視覺工具。并進(jìn)一步闡述了免疫電鏡技術(shù)在免疫生物學(xué)、發(fā)育生物學(xué)、神經(jīng)生物學(xué)等多個(gè)前沿領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用案例。展望未來，胡老師指出，免疫電鏡技術(shù)與CD-SEM技術(shù)的融合將成為一個(gè)新的發(fā)展方向，使研究者能夠更加真實(shí)地洞察細(xì)胞內(nèi)部的微觀世界，為生命科學(xué)領(lǐng)域的研究開辟新的道路。

　　北京低碳清潔能源研究院蔣復(fù)國高級(jí)工程師作題為“原位電鏡在工業(yè)用費(fèi)托催化劑的活性相研究”的報(bào)告。費(fèi)托（FT）合成，作為一種煤間接制油的技術(shù)，其機(jī)理依據(jù)碳化物原理，可以細(xì)分為四個(gè)關(guān)鍵步驟：CO解離、C原子加氫、C鏈增長以及C鏈加氫終止。通過這一系列反應(yīng)，能夠合成出長鏈碳?xì)浠衔?，這一化合物具有高經(jīng)濟(jì)價(jià)值。為了更深入地研究費(fèi)托合成過程，該研究利用Protochips Atmosphere210+AXON進(jìn)行了原位表征。發(fā)現(xiàn)，較低溫度下，純相ε-Fe2C為在還原Fe納米顆粒表面外延生長，因而加大比表面積，并阻斷O與CO結(jié)合機(jī)會(huì)，從而降低CO2選擇率。還觀察到，在一定的條件下，可從氧化鐵內(nèi)部直接碳化得到純相的χ-Fe5C2。

　　中國科學(xué)院植物研究所徐秀蘋正高級(jí)工程師作題為“冷凍掃描電鏡和 MicroCT 在植物學(xué)研究中的應(yīng)用”的報(bào)告。低溫掃描電鏡，作為一種集成了冷凍樣品制備技術(shù)與掃描電鏡功能的新型設(shè)備，其獨(dú)特之處在于能夠在高真空環(huán)境中直接觀察含水樣品，該技術(shù)不僅制樣過程迅速，而且通過斷裂蝕刻等手段，能在最大程度上保留樣品的原貌與原位信息。然而，低溫掃描電鏡亦有其局限性，如觀察后的樣品無法保存以供后續(xù)研究，且難以有效去除樣品表面的雜質(zhì)，這在一定程度上限制了其應(yīng)用范圍。MicroCT（顯微計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)）作為一種非破壞性的3D成像技術(shù)，以其高分辨率（高于臨床CT）著稱，能夠在不破壞樣本的前提下，揭示樣本內(nèi)部的顯微結(jié)構(gòu)。在植物學(xué)研究中，低溫掃描電鏡與MicroCT均展現(xiàn)出了廣泛的應(yīng)用潛力。

　　國家納米中心鄭強(qiáng)研究員作題為“功能晶體材料局域結(jié)構(gòu)波動(dòng)的表征與設(shè)計(jì)”的報(bào)告。報(bào)告中，鄭強(qiáng)研究員詳細(xì)介紹了在層狀半導(dǎo)體Inse局域晶格應(yīng)變(自發(fā)極化)、層狀半導(dǎo)體Inse外場下的晶格應(yīng)變操控(極化操控)及層狀半導(dǎo)體Inse的應(yīng)變機(jī)理等方面的研究進(jìn)展，研究發(fā)現(xiàn)層狀半導(dǎo)體InSe中存在Se皮米級(jí)位移，導(dǎo)致兩類自發(fā)極化疇；外電場可誘導(dǎo)層狀半導(dǎo)體InSe發(fā)生層內(nèi)滑移，這種層內(nèi)滑移是其鐵電性的重要起源；InSe層內(nèi)滑移方向隨電場方向變化發(fā)生反轉(zhuǎn)，電致應(yīng)變量隨電場強(qiáng)度增強(qiáng)而增加；外應(yīng)力可導(dǎo)致Inse層內(nèi)滑移，后續(xù)可定量研究外應(yīng)力-層內(nèi)滑移及相關(guān)應(yīng)變機(jī)理。

　　北京師范大學(xué)李永良副研究員作題為“場發(fā)射掃描電鏡的理論與實(shí)踐”的報(bào)告。報(bào)告主要介紹了加速電壓對(duì)電鏡圖像的影響以及低電壓模式的應(yīng)用。首先，加速電壓對(duì)圖像的影響極大，它決定了電子束的能量，進(jìn)而影響電子束與樣品的相互作用、信號(hào)的產(chǎn)生以及圖像的分辨率。隨著加速電壓的增加，電子束能量提高，但圖像的相似中區(qū)范圍也會(huì)擴(kuò)大，導(dǎo)致細(xì)節(jié)丟失。其次，加速電壓與分辨率有直接關(guān)系。通常，電壓越高，電子槍亮度越大，分辨率也越高。但低電壓下的分辨率會(huì)明顯低于高電壓。此外，加速電壓還與電子束損傷有關(guān)。高電壓下，電子束能量高，可能導(dǎo)致樣品受熱損傷或積碳現(xiàn)象。而低電壓下，單位體積的沉積電子束能量反而更高，更易引起積碳。最后，介紹了低電壓模式在材料研究中的應(yīng)用，特別是在鋰電池研究中的應(yīng)用。

　　上海微納國際貿(mào)易有限公司產(chǎn)品經(jīng)理 趙昕作題為“Dectris 4D-STEM 混合像素直接電子探測器在材料及生命科學(xué)中的應(yīng)用”的報(bào)告。Dectris公司于2006年成立，總公司位于瑞士，在美國和日本有分公司(銷售和支持)，擁有18年的探測器研發(fā)和商業(yè)化經(jīng)驗(yàn)。隨后，她介紹了混合像素探測技術(shù)，其區(qū)別于直接電子探測器，由上下兩個(gè)芯片組成，上為純硅基探測芯片，下為讀出芯片，中間以微球連接，旨在提升數(shù)據(jù)讀出速度。其特點(diǎn)為0噪音，技術(shù)準(zhǔn)確。長時(shí)間曝光下，可見宇宙射線等雜散信號(hào)。最后，又為參會(huì)者詳細(xì)介紹了4D-STEM的基本原理及其在材料科學(xué)中的應(yīng)用。

　　牛津儀器科技(上海)有限公司 高級(jí)應(yīng)用科學(xué)家 楊小鵬作題為“牛津儀器顯微分析技術(shù)最新進(jìn)展”的報(bào)告。楊小鵬詳盡闡述了牛津儀器材料分析部（MA）的業(yè)務(wù)范疇，該部門涵蓋了光學(xué)、電子光學(xué)及力學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域的解決方案。隨后，他著重介紹了牛津儀器的幾款高端儀器設(shè)備，包括高通量且高分辨率的原子力顯微鏡、RISE關(guān)聯(lián)顯微鏡系統(tǒng)、Nano Indenter納米壓痕儀，以及先進(jìn)的Ultim Extreme ∞設(shè)備，并深入探討了這些儀器在鋰電池檢測等領(lǐng)域的實(shí)際應(yīng)用與優(yōu)勢。

　　日立科學(xué)儀器 電鏡銷售支援部 經(jīng)理張希文作題為“日立原位球差與聚焦離子束技術(shù)介紹”的報(bào)告。報(bào)告介紹了日立公司的兩款高端科研設(shè)備：HF5000透射電鏡和聚焦離子束(FIB)設(shè)備。HF5000具備高分辨率、原位功能及獨(dú)特的二次電子像，可在通氣狀態(tài)下保持高分辨率，適用于各種樣品桿，為研究者提供新視野。FIB設(shè)備則擅長透射樣品制備，具有低損傷加工和真空轉(zhuǎn)移技術(shù)，可與其他設(shè)備互聯(lián)，滿足多樣化科研需求。

　　國儀量子技術(shù)（合肥）股份有限公司 電鏡解決方案部負(fù)責(zé)人 高原作題為“國儀量子電鏡最新技術(shù)及應(yīng)用進(jìn)展”的報(bào)告。自2016年創(chuàng)立以來，國儀量子通過持續(xù)研發(fā)新產(chǎn)品與創(chuàng)新技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了企業(yè)的蓬勃發(fā)展，目前全球范圍內(nèi)累計(jì)裝機(jī)量已超過450臺(tái)。本次報(bào)告聚焦于國儀量子的最新技術(shù)突破，詳盡介紹了包括FIB-DB550、HEM6000、原位工程技術(shù)以及新型同軸分流式信號(hào)探測系統(tǒng)在內(nèi)的多項(xiàng)前沿成果。報(bào)告介紹了這些技術(shù)的技術(shù)原理、創(chuàng)新亮點(diǎn)以及它們在多個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域中的廣闊前景。

　　捷歐路(北京)科貿(mào)有限公司 應(yīng)用工程師 成華秋作題為“日本電子 FE-SEM 的技術(shù)革新和無窗型能譜的介紹”的報(bào)告。報(bào)告中詳細(xì)闡述了JSM-IT810掃描電鏡的技術(shù)革新：其一體化與自動(dòng)化的操作流程標(biāo)志著掃描電鏡技術(shù)邁入了一個(gè)全新的自動(dòng)化紀(jì)元。通過SBED（超快速背散射電子衍射）和VBED（虛擬背散射電子衍射）技術(shù)，JSM-IT810實(shí)現(xiàn)了高像素的快速掃描，并引入了Live-3D實(shí)時(shí)三維成像功能，加之梯形校正等功能的加入，進(jìn)一步提升了其性能與實(shí)用性。此外，還著重介紹了無窗型能譜儀Gather-X的顯著特點(diǎn)：該設(shè)備能在整個(gè)能量范圍內(nèi)提供高靈敏度的元素分析，同時(shí)確保了高度的操作便捷性與用戶安全保障。其MAP（多道分析器）技術(shù)更是賦予了Gather-X卓越的高空間分辨率能力，使得分析結(jié)果更為精確與細(xì)致。

　　卡爾蔡司(上海)管理有限公司 應(yīng)用經(jīng)理 秦艷作題為“SEM中塊體樣品位錯(cuò)的定量定性表征與分析”的報(bào)告。報(bào)告核心內(nèi)容聚焦于蔡司SEM中一項(xiàng)創(chuàng)新的塊體樣品位錯(cuò)分析技術(shù)——cECCI。該技術(shù)巧妙融合了電子背散射衍射（EBSD）與透射電子顯微鏡（TEM）的優(yōu)勢，展現(xiàn)出了幾大特點(diǎn)：一是分析面積廣泛，能夠覆蓋更大的樣品區(qū)域；二是分辨率極高，能夠精確捕捉微觀結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)；三是統(tǒng)計(jì)性強(qiáng)，能夠提供豐富的位錯(cuò)分布與性質(zhì)數(shù)據(jù)；四是操作流程簡便，降低了技術(shù)門檻，等等。此外，cECCI技術(shù)具有廣泛的材料適用性，能夠支持多種類型材料的位錯(cuò)定量與定性表征與分析。

　　北京中科匯束科技有限公司/隆斯克普 總經(jīng)理 劉曉斌作題為“國產(chǎn)真空冷凍傳輸系統(tǒng)和氬離子束儀器的開發(fā)和應(yīng)用”的報(bào)告。報(bào)告詳細(xì)介紹了隆斯克普的技術(shù)、儀器、實(shí)驗(yàn)流程及應(yīng)用結(jié)果。從技術(shù)組成，涵蓋真空、冷凍、傳輸及離子束技術(shù)，這些技術(shù)組合形成了完整的產(chǎn)品線，如真空冷凍樣品轉(zhuǎn)移倉、液氮操作臺(tái)、多功能冷凍實(shí)驗(yàn)艙等，這些產(chǎn)品可相互連接，支持從制樣到觀測的完整工作流程，并展示了實(shí)驗(yàn)流程和具體案例，如酵母菌、蘋果組織及樹葉的冷凍傳輸圖像。此外，還介紹了離子束相關(guān)的產(chǎn)品，如離子減薄拋光儀和離子束刻蝕鍍膜儀，滿足用戶的不同需求。

　　賽默飛世爾科技 業(yè)務(wù)拓展部經(jīng)理 楊光作題為“賽默飛最新一代球差校正電鏡-Iliad介紹”的報(bào)告。Iliad是一款全集成的分析型（掃描）透射電鏡，其集成了全新的Iliad 電子能量損失譜儀(EELS)和能量過濾器、專用的Zebra EELS探測器，以及全新的NanoPulser超快靜電束閘，并通過多項(xiàng)創(chuàng)新，確保與電鏡光學(xué)系統(tǒng)的深度集成。此外Iliad EELS可以在采集數(shù)據(jù)時(shí)始終保持聚焦，可以實(shí)現(xiàn)最多5個(gè)能量范圍的數(shù)據(jù)收集，也可以實(shí)現(xiàn)極高能量電子損失譜數(shù)據(jù)的收集。這款電鏡以前所未有的硬件和軟件集成，以及對(duì)儀器設(shè)計(jì)的前瞻性方法，開啟了球差校正電鏡新篇章，也標(biāo)志著賽默飛科技在推動(dòng)科學(xué)發(fā)現(xiàn)和技術(shù)創(chuàng)新方面邁出了重要一步。

　　北京理化分析測試技術(shù)學(xué)會(huì)電鏡專業(yè)委員會(huì)榮譽(yù)理事長張德添老師發(fā)表了總結(jié)發(fā)言。他指出，各位專家的報(bào)告充分展現(xiàn)了電子顯微學(xué)領(lǐng)域的蓬勃發(fā)展態(tài)勢，并強(qiáng)調(diào)本次會(huì)議旨在搭建一個(gè)交流與合作的平臺(tái)。張理事長對(duì)參會(huì)的每位老師、專家及廠商代表表達(dá)了誠摯的謝意，并表示希望明年再次相聚。

　　2024年長三角G60科創(chuàng)走廊國產(chǎn)科學(xué)儀器應(yīng)用示范基地成果發(fā)布暨產(chǎn)品評(píng)測需求對(duì)接會(huì)

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